Miernik grubości powłok 1250 μm CF1250

Precyzyjny miernik grubości powłok, o zakresie pomiaru 0~1250 μm, z możliwością pomiaru ciągłego i pojedynczego. Miernik przeznaczony jest do pomiaru grubości warstwy powierzchniowej np. cynku, miedzi, tworzywa sztucznego itp. Mierzone podłoże może być wykonane zarówno z metali magnetycznych, jak i niemagnetycznych. Miernik jest wyposażony w zintegrowaną sondę pomiarową typu V, co ułatwia pomiar na cylindrach. Posiada możliwość śledzenia statystyk.